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• 000 00955nam0 2200253 450

• 001 0000098755

• 005 20041116161900.0

• 010 __ |a 7-115-12402-7 |d CNY18.00

• 100 __ |a 20041018d2004 km y0chiy0120 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字电路典型实验范例剖析 |A Shu Zi Dian Lu Dian Xing Shi Yan Fan Li Pou Xi |f 王泽保，赵博编著

• 210 __ |a 北京 |c 人民邮电出版社 |d 2004

• 215 __ |a 158页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 该书分为“基础知识”、“单元实验”和“课程设计”3部分。第一部分讲解了数字电路设计的相关器件；第二部分单元实验包括基本门特性分析、TTL电路单元实验等；第三部分课程设计包括了GAL和TTL的综合实验、高密度可编程器件CPLD实验等内容。

• 606 0_ |a 数字电路 |x 实验 |x 高等学校 |x 教学参考资料

• 690 __ |a TN79-33 |v 4

• 701 _0 |a 王泽保 |A Wang Ze Bao |4 编著

• 701 _0 |a 赵博 |A Zhao Bo |4 编著

• 801 _0 |a CN |b RULIN |c 20041102

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20041116

• 905 __ |a AUSTL |d TN79-33/W942