机读格式显示(MARC)

• 000 01501nam 2200361 450

• 001 0000372914

• 005 20210906112500.0

• 010 __ |a 978-7-5628-6102-7 |b 精装 |d CNY278.00

• 100 __ |a 20201210d2020 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a a a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 太赫兹光电测试技术 |A tai he zi guang dian ce shi ji shu |d = Terahertz photoelectric measurement technology |f 谭智勇, 曹俊诚著 |z eng

• 210 __ |a 上海 |c 华东理工大学出版社 |d 2020.10

• 215 __ |a 254页 |c 彩图 |d 24cm

• 225 2_ |a 战略前沿新技术 |A zhan lve qian yan xin ji shu

• 225 2_ |a 太赫兹出版工程 |A Tai He Zi Chu Ban Gong Cheng |v 9

• 300 __ |a 上海出版资金项目

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发, 介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点, 阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点, 最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。

• 410 _0 |1 2001 |a 战略前沿新技术 |i 太赫兹出版工程 |v 9

• 410 _0 |1 2001 |a 太赫兹出版工程 |v 9

• 510 1_ |a Terahertz photoelectric measurement technology |z eng

• 606 0_ |a 电磁辐射 |A dian ci fu she |x 研究

• 606 0_ |a 光电检测 |A guang dian jian ce |x 测试技术

• 690 __ |a O441.4 |v 5

• 690 __ |a TN206 |v 5

• 690 __ |a O441.4-51 |v 5

• 701 _0 |a 谭智勇 |A tan zhi yong |4 著

• 701 _0 |a 曹俊诚 |A cao jun cheng |4 著

• 801 _0 |a CN |b 安徽时代 |c 20210629

• 905 __ |a AUSTL |d O441.4-51/H253/9