机读格式显示(MARC)

• 000 01491nam0 2200325 450

• 001 0000353248

• 005 20201019095900.0

• 010 __ |a 978-7-5159-1679-8 |b 精装 |d CNY128.00

• 099 __ |a CAL 012020004644

• 100 __ |a 20200110d2019 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 加速试验 |A jia su shi yan |e 统计模型、试验设计与数据分析 |f (美) 韦恩·B·纳尔逊著 |d = Accelerated testing |e statistical models, test plans, and data analysis |f Wayne B. Nelson |g 张正平, 李海波等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 中国宇航出版社 |d 2019

• 215 __ |a XX, 534页 |c 图 |d 27cm

• 306 __ |a 由John Wiley & Sons, Inc.授予出版

• 306 __ |a 航天科技图书出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目 (第512-534页）

• 330 __ |a 本书是美国可靠性领域著名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典著作, 系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法, 并给出了大量的相关实例。

• 500 10 |a Accelerated testing : statistical models, test plans, and data analysis |A Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, And Data Analysis |m Chinese

• 517 1_ |a 统计模型、试验设计与数据分析 |A tong ji mo xing 、 shi yan she ji yu shu ju fen xi

• 606 0_ |a 加速寿命试验 |A jia su shou ming shi yan

• 690 __ |a N33 |v 5

• 701 _1 |a 纳尔逊 |A na er xun |g (Nelson, Wayne B.) |4 著

• 702 _0 |a 张正平 |A zhang zheng ping |4 译

• 702 _0 |a 李海波 |A li hai bo |4 译

• 801 _0 |a CN |b XJT |c 20200110

• 905 __ |a AUSTL |d N33/N296