机读格式显示(MARC)

• 000 01026oam2 2200289 450

• 001 0000148904

• 005 20060719092800.0

• 010 __ |a 7-121-00210-8 |d CNY45.00

• 100 __ |a 20041008d2004 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性试验 |A Ke Kao Xing Shi Yan |9 ke kao xing shi yan |f 刘明治编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004

• 215 __ |a 332页 |d 24cm

• 225 2_ |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Zhi Liang Yu Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 330 __ |a 本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念基础上，介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序等。

• 461 _0 |1 001002731731 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |x 可靠性 |x 试验

• 606 0_ |a 电子元件

• 606 0_ |a 可靠性

• 690 __ |a TN606 |v 4

• 701 _0 |a 刘明治 |A Liu Ming Zhi |9 liu ming zhi |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 2004102

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20060719

• 905 __ |a AUSTL |d TN606/L539