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• 000 00673nam0 2200229 450

• 001 0000051805

• 005 20210115101700.0

• 010 __ |d CNY0.94

• 091 __ |a 150341635

• 100 __ |a 20020830d2001 mk y0chiy50 eb

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件可靠性 |f 《半导体器件可靠性》编写组编 |A ban dao ti qi jian ke kao xing

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 1978.3

• 215 __ |a 372页 |d 19厘米

• 690 __ |a TN306 |v 3　

• 692 __ |a 73.7314

• 711 00 |a 《半导体器件可靠性》编写组编 |A 《Ban Dao Ti Qi Jian Ke Kao Xing》Bian Xie Zu Bian

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20200909

• 905 __ |a AUSTL |d TN306/B263

• 905 __ |a AUSTL |d 73.7314/3542