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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a VLSI测试方法学和可测性设计 |A VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |f 雷绍充, 邵志标, 染峰著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005

• 215 __ |a 286页 |c 图 |d 25cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书系统地介绍了大规模集成电路的测试方法学和可测性设计, 主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论, 数字电路的描述和模拟方法, 组合电路和时序电路的测试生成方法, 专用可测性设计, 扫描和边界扫描理论等。

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 _0 |a 雷绍充 |A lei shao chong |4 著

• 701 _0 |a 邵志标 |A shao zhi biao |4 著

• 701 _0 |a 染峰 |A ran feng |4 著

• 801 _0 |a CN |b RENTIAN |c 20050129

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20050404

• 905 __ |a AUSTL |d TN47/L744