机读格式显示(MARC)

• 000 00955nam0 2200253 450

• 001 0000162216

• 005 20070122150600.0

• 010 __ |a 7-118-04619-1 |d CNY150.00

• 100 __ |a 20060928d2006 em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件失效分析与典型案例 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Shi Xiao Fen Xi Yu Dian Xing An Li |f 孔学东, 恩云飞主编

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a 260页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件等。

• 606 0_ |a 电子元件 |A Dian Zi Yuan Jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN601 |v 4

• 701 _0 |a 孔学东 |A Kong Xue Dong |4 主编

• 701 _0 |a 恩云飞 |A En Yun Fei |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 2006092

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20070122

• 905 __ |a AUSTL |d TN601/K875