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• 010 __ |a 7-121-01490-4 |d CNY58.00

• 100 __ |a 20050816d2005 ekmy0chiy0121 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 超大规模集成电路测试 |A chao da gui mo ji cheng dian lu ce shi |e 数字、存储器和混合信号系统 |d = Essentials of electronic testing for digital, memory ＆mixed-signal VLSI circuits |f (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 |g 蒋安平, 冯建华, 王新安译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005

• 215 __ |a 511页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie

• 306 __ |a 本书中文简体字版由Kluwer A cademic Publishers授权电子出版社出版

• 314 __ |a 责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 责任者Agrawal规范汉译姓: 阿格雷沃尔

• 320 __ |a 有书目 (第474-511页)

• 330 __ |a 本书主要内容包括: 引言、VLSI测试过程和测试设备、测试经济学和产品质量、故障模型、逻辑与故障模拟等。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 510 1_ |a Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits |z eng

• 517 1_ |a 数字存储器和混合信号系统 |A shu zi cun chu qi he hun he xin hao xi tong

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试 |j 教材

• 690 __ |a TN470.7 |v 4

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 _1 |a 布什内尔, |A bu shi nei er |b M. L. |g (Bushnell, Michael L.) |4 著

• 701 _1 |a 阿格雷沃尔, |A a ge lei wo er |b V. D. |g (Agrawal, Vishwani D.) |4 著

• 702 _0 |a 蒋安平 |A jiang an ping |4 译

• 702 _0 |a 冯建华 |A feng jian hua |4 译

• 702 _0 |a 王新安 |A wang xin an |4 译

• 801 _0 |a CN |b 三新书业 |c 20050816

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20060329

• 905 __ |a AUSTL |d TN47/B755