机读格式显示(MARC)

• 000 01497nam0 2200349 450

• 001 0000422122

• 005 20221008154900.0

• 010 __ |a 978-7-5682-9656-4 |b 精装 |d CNY138.00

• 099 __ |a CAL 012021115650

• 100 __ |a 20211021d2021 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子器件和集成电路单粒子效应 |A dian zi qi jian he ji cheng dian lu dan li zi xiao ying |d = Single event effects of electronic devices and integrated circuits |f 曹洲, 安恒, 高欣编著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 北京理工大学出版社有限责任公司 |d 2021

• 215 __ |a [11], 458页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 空间科学与技术研究丛书 |A kong jian ke xue yu ji shu yan jiu cong shu

• 300 __ |a “十三五”国家重点出版物出版规划项目 国家出版基金项目 国之重器出版工程 国防现代化建设

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理，试验测试的基础理论与方法，单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法，空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面内容。

• 410 _0 |1 2001 |a 空间科学与技术研究丛书

• 510 1_ |a Single event effects of electronic devices and integrated circuits |z eng

• 606 0_ |a 电子器件 |A dian zi qi jian |x 单粒子态 |x 研究

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 单粒子态 |x 研究

• 690 __ |a TN |v 5

• 690 __ |a O571.24 |v 5

• 701 _0 |a 曹洲 |A Cao Zhou |4 编著

• 701 _0 |a 安恒 |A An Heng |4 编著

• 701 _0 |a 高欣 |A Gao Xin |4 编著

• 801 _0 |a CN |b ZJUT |c 20211021

• 905 __ |a AUSTL |d TN/C986