机读格式显示(MARC)
- 000 00872nam0 2200253 450
- 010 __ |a 978-7-307-19034-4 |d CNY29.00
- 099 __ |a CAL 012017086132
- 100 __ |a 20170531d2017 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术 |A ban dao ti feng zhuang ce shi zhi zao xi tong yun xing you hua li lun yu ji shu |f 倪妍婷著
- 210 __ |a 武汉 |c 武汉大学出版社 |d 2017
- 215 __ |a 173页 |c 图 |d 24cm
- 300 __ |a 国家自然科学基金项目 (No.51505042) 和四川省教育厅重点项目 (No.17ZA0088) 成果
- 320 __ |a 有书目 (第157-172页)
- 606 0_ |a 半导体工艺 |A ban dao ti gong yi |x 封装工艺 |x 测试 |x 智能制造系统
- 701 _0 |a 倪妍婷 |A ni yan ting |4 著
- 801 _0 |a CN |b WUL |c 20170531
- 905 __ |a AUSTL |d TN305.94/N933