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- 010 __ |a 978-7-04-030092-5 |b 精装 |d CNY119.00
- 100 __ |a 20111221d2012 em y0chiy0121 ba
- 200 1_ |a 微观组织的分析电子显微学表征 |A Wei Guan Zu Zhi De Fen Xi Dian Zi Xian Wei Xue Biao Zheng |d = Characterization of microstructures by analytical electron microscopy |f Yonghua Rong |z eng
- 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2012
- 215 __ |a xviii, 552页 |c 图 |d 25cm
- 225 2_ |a 材料科学与工程著作系列 |A cai liao ke xue yu gong cheng zhu zuo xi lie
- 330 __ |a 本书介绍了分析电子显微学 (AEM) 的基本概念和操作技术, 聚集于相恋和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射晶体学的物理概念和数学分析方法, 例如相变中位向关系的定量预测等, 以便读者加深理解和拓展视野。
- 410 _0 |1 2001 |a 材料科学与工程著作系列
- 510 1_ |a Characterization of microstructures by analytical electron microscopy
- 606 0_ |a 电子显微镜分析 |A dian zi xian wei jing fen xi |x 研究生 |x 英文 |j 教学参考资料
- 701 _0 |a 戎咏华 |A rong yong hua |4 著
- 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20130105
- 905 __ |a AUSTL |d O657.99/R919-2