机读格式显示(MARC)

• 000 00500nam0 2200193 450

• 001 0000051018

• 005 20201109110300.0

• 010 __ |d CNY1.00

• 100 __ |a 20020830d2001 mk y0chiy50 eb

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 微电子测试结构 |A wei dian zi ce shi jie gou |f 孙为编

• 210 __ |a 上海 |c 华东师范大学出版社 |d 1984.11

• 215 __ |a 177页 |d 21厘米

• 692 __ |a 73.75157

• 701 _0 |a 孙为 |A Sun Wei |4 编

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20201109

• 905 __ |a AUSTL |d 73.75157/53