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• 000 01307nam0 2200289 450

• 001 0000357065

• 005 20211202161700.0

• 010 __ |a 978-7-302-53953-7 |b 精装 |d CNY89.00

• 099 __ |a CAL 012020393008

• 100 __ |a 20201201d2019 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi |a eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术 |A gao ling min ji gao fen bian KPFM ji qi xiang guan ji shu |b 专著 |d The kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution |f 马宗敏著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2019

• 215 __ |a 219页 |c 图 |d 24cm

• 225 1_ |a 纳米光子学丛书 |A Na Mi Guang Zi Xue Cong Shu |f 孙萌涛主编

• 330 __ |a 本书介绍了AFM、KPFM及其相关技术的原理、成像特点、应用范围，常温/低温AFM、KPFM等仪器关键技术及搭建难点，运用上述仪器取得的典型成果，极端环境(超低温、超高真空)下AFM在氧化物表面的探针修饰、原子识别技术成果等。

• 510 1_ |a Kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution |z eng

• 606 0_ |a 微探针分析 |A Wei Tan Zhen Fen Xi |j 英文

• 606 0_ |a 电子显微术 |A Dian Zi Xian Wei Shu |j 英文

• 690 __ |a O657.99 |v 5

• 690 __ |a TN27 |v 5

• 701 _0 |a 马宗敏 |A ma zong min |4 著

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20211202

• 905 __ |a AUSTL |d O657.99/M954