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• 000 01087nam0 2200301 450

• 001 0000307418

• 005 20201210104300.0

• 091 __ |a 15119.2028 |d CNY0.46

• 099 __ |a CAL 012000124652 |a CAL 0120110774084m |a CAL 012001210049

• 100 __ |a 19970821d1979 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a y a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 分析晶体缺陷的电子显微术 |A fen xi jing ti que xian de dian zi xian wei shu |f (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 |g 康振川,王桂金译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1979

• 215 __ |a 111页 |d 20cm

• 606 0_ |a 晶体缺陷 |A Jing Ti Que Xian |x 分析 |x 电子显微术

• 690 __ |a O77 |v 3

• 692 __ |a 75.221

• 692 __ |a 54.968 |v 3

• 701 _1 |a 洛雷托 |A Luoleituo |4 著 |3 CAL n2004369713# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 701 _1 |a 斯莫尔曼 |A Simoerman |4 著 |3 CAL n2004539133# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 702 _0 |a 康振川, |A Kang Zhenchuan |f 1938- |4 译 |3 CAL n2004448963# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 702 _0 |a 王桂金 |A Wang Guijin |c (翻译) |4 译 |3 CAL n2004179526# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _2 |a CN |b LZT

• 905 __ |a AUSTL |d 54.968/311/

• 998 __ |a PUL