机读格式显示(MARC)

• 000 00636nam0 2200217 450

• 001 0000051799

• 005 20201202084700.0

• 010 __ |d CNY16.40

• 100 __ |a 20020830d2001 mk y0chiy50 eb

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 106 __ |a r

• 200 0_ |a 半导体器件及电路的可靠性与退化 |A ban dao ti qi jian ji dian lu de ke kao xing yu tui hua |f (英)豪斯，摩根主编 |g 李锦林等译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 1989.10

• 215 __ |a 463页 |d 21厘米

• 692 __ |a 73.7314

• 701 _1 |a 豪斯 |A Hao Si |4 主编

• 701 _1 |a 摩根 |A Mo Gen

• 702 _0 |a 李锦林等 |A Li Jin Lin Deng |4 译

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20201202

• 905 __ |a AUSTL |d 73.7314/31