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• 010 __ |a 978-7-306-06689-3 |b 精装 |d CNY200.00

• 099 __ |a CAL 012021011297

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 表面分析技术 |A biao mian fen xi ji shu |f (英) 约翰·C. 维克曼, 伊恩·S. 吉尔摩编 |d = Surface analysis |e the principal techniques |f John C. Vickerman, Ian S. Gilmore |g 陈建 ... [等] 译 |z eng

• 210 __ |a 广州 |c 中山大学出版社 |d 2020

• 215 __ |a [18], 530页 |c 图 (部分彩图), 肖像 |d 26cm

• 304 __ |a 题名页译者还有: 谢方燕, 李展平, 尹诗衡, 龚力

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书介绍表面分析主要技术, 包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析, 每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练, 判断自己对书中知识内容掌握的程度。

• 500 10 |a Surface analysis : the principal techniques |A Surface Analysis : The Principal Techniques |m Chinese

• 606 0_ |a 表面分析 |A biao mian fen xi

• 606 0_ |a 表面物理学 |A Biao Mian Wu Li Xue |x 分析

• 690 __ |a O655.9 |v 5

• 690 __ |a O652 |v 5

• 690 __ |a O485 |v 5

• 701 _1 |a 维克曼 |A wei ke man |g (Vickerman, John C.) |4 编

• 701 _1 |a 吉尔摩 |A ji er mo |g (Gilmore, Ian S.) |4 编

• 701 _0 |a 谢方燕 |A xie fang yan |4 译

• 702 _0 |a 陈建, |A chen jian |f 1969- |4 译

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20210108

• 905 __ |a AUSTL |d O655.9/W454