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• 000 01804nam 2200349 450

• 001 0000272741

• 005 20191203162600.0

• 010 __ |a 978-7-111-56987-9 |d CNY125.00

• 100 __ |a 20170915d2017 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 纳米级集成电路系统电源完整性分析 |A na mi ji ji cheng dian lu xi tong dian yuan wan zheng xing fen xi |f (日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著 |g 戴澜, 陈铖颖, 张晓波译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2017

• 215 __ |a xv, 314页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 微电子与集成电路先进技术丛书 |A wei dian zi yu ji cheng dian lu xian jin ji shu cong shu

• 306 __ |a 本授权中文简体字翻译版由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和机械工业出版社合作出版

• 312 __ |a 英文题名原文取自版权页

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 进入21世纪以来, 集成电路制造工艺的发展日新月异, 目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题, 直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此, 本书作者以系统级电源完整性为切入点, 深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题, 并以IBM POWER7+处理器芯片作为实例进行分析, 最后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。

• 410 _0 |1 2001 |a 微电子与集成电路先进技术丛书

• 500 10 |a Power integrity for nanoscale integrated systems |A Power Integrity For Nanoscale Integrated Systems |m Chinese

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN402 |v 5

• 701 _0 |a 桥本正德 |A qiao ben zheng de |4 著

• 701 _1 |a 耐尔 |A nai er |g (Nair, Raj) |4 著

• 702 _0 |a 戴澜 |A dai lan |4 译

• 702 _0 |a 陈铖颖 |A chen cheng ying |4 译

• 702 _0 |a 张晓波 |A zhang xiao bo |4 译

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20180303

• 905 __ |a AUSTL |d TN402/Q169