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• 200 1_ |a 集成电路系统设计、验证与测试 |A ji cheng dian lu xi tong she ji、yan zheng yu ce shi |f (美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 |g 陈力颖, 王猛译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008.06

• 215 __ |a xiv, 475页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路EDA技术 |A ji cheng dian lu EDA ji shu

• 312 __ |a 英文并列提名取自于版权页

• 320 __ |a 有书目。

• 330 __ |a 本书内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言、soC的IP设计，MPsoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPC，以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路EDA技术

• 500 10 |a EDA for IC system design, verification and testing |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _1 |a 谢弗 |A xie fu |g (Scheffer, Louis) |4 著

• 701 _1 |a 马丁 |A ma ding |g (Martin, Grant) |4 著

• 702 _0 |a 陈力颖 |A chen li ying |4 译

• 702 _0 |a 王猛 |A wang meng |4 译

• 801 _0 |a CN |b 新九雅图书 |c 20081023

• 905 __ |a AUSTL |d TN402/X334-2