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• 000 01381nam0 2200313 450

• 001 0000347990

• 005 20201023132000.0

• 010 __ |a 7-115-03469-9 |d CNY2.75

• 099 __ |a CAL 012000450811 |a CAL 012001331683

• 100 __ |a 19900204d1988 k 0chiy50 eb

• 101 1_ |a chi |c rus

• 102 __ |a CN

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路参数的测量 |A shuzi jicheng dianlu canshu de celiang |f (苏)Д. Ю. 埃杜卡斯等编著 |g 张 伦译

• 210 __ |a 北京 |c 人民邮电出版社 |d 1988

• 215 __ |a 345页 |d 21cm

• 300 __ |a 根据М:радио и связь1982年英文版译出.

• 300 __ |a 译自: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем／Д. Ю. Зйдукас

• 330 __ |a 介绍集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法、功能检验、静态参数检测设备、动态参数检测设备、功能检验设备、检验系统的程序保证及检测集成电路的生产体系等。

• 510 1_ |a Измерение Параметров Цифровых Цнтетральных Микрохсем

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu |x 参数 |x 测量

• 690 __ |a TN431.2

• 692 __ |a 73.7554

• 701 _1 |a 埃杜卡斯 |A Aidukasi |g (Ейдукас, Д. Ю.) |3 CAL n2004513055# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 701 _0 |a 张伦 |A Zhang Lun |c (数字集成电路) |3 CAL n2004451618# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _0 |a CN |b SUDI

• 905 __ |a AUSTL |d TN431.2/A252

• 998 __ |a SJT