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• 010 __ |a 978-7-03-070039-1 |d CNY135.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件电离辐射总剂量效应 |A ban dao ti qi jian dian li fu she zong ji liang xiao ying |f 陈伟 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2022.09

• 215 __ |a 226页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 辐射环境模拟与效应丛书 |A fu she huan jing mo ni yu xiao ying cong shu

• 304 __ |a 题名页题其余责任者: 何宝平, 姚志斌, 马武英

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要介绍电离辐射环境与效应、体硅cmOs工艺器件和SOI工艺器件电离总剂量效应、双极工艺器件低剂量率辐射损伤增强效应、总剂量效应数值模拟和试验方法、总剂量效应预估模型与方法、纳米器件总剂量效应与可靠性、系统级总剂量效应模拟试验方法等内容。

• 410 _0 |1 2001 |a 辐射环境模拟与效应丛书

• 606 0_ |a 半导体器件 |A ban dao ti qi jian |x 电离辐射 |x 辐射效应

• 690 __ |a TN303 |v 5

• 701 _0 |a 陈伟 |A chen wei |4 编著

• 701 _0 |a 何宝平 |A he bao ping |4 编著

• 701 _0 |a 姚志斌 |A yao zhi bin |4 编著

• 701 _0 |a 马武英 |A ma wu ying |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 辽批 |c 20231120

• 905 __ |a AUSTL |d TN303/C846