机读格式显示(MARC)

• 000 01079nam 2200289 450

• 001 0000143815

• 005 20060524152100.0

• 010 __ |a 7-121-00209-4 |d CNY88.00

• 100 __ |a 20051118d2004 em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |A Ke Kao Xing Wu Li |f 姚立真编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004

• 215 __ |a 21, 669页 |d 24cm

• 225 2_ |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Zhi Liang Yu Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 320 __ |a 有书目 (第668-669页)

• 330 __ |a 全书分为四部分，阐述了电子元器件失效分析中的理论基础；论述了失效的物理模型；介绍了元器件静电放电失效的原理和防护，元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。

• 333 __ |a 读者对象：从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员，高等学校相关师生。

• 410 _0 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |x 可靠性

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 _0 |a 姚立真 |A Yao Li Zhen |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20051118

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20060524

• 905 __ |a AUSTL |d TN6/Y499