机读格式显示(MARC)

• 000 00823nam0 2200277 450

• 001 0000313011

• 005 20191030151600.0

• 010 __ |d CNY0.40

• 099 __ |a CAL 012000746615

• 100 __ |a 19970609d1972 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路可靠性 |A ji cheng dian lu ke kao xing |f 上海冶金研究所编译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术情报研究所 |d 1972

• 215 __ |a 64页 |d 26cm

• 300 __ |a 非正式出版物

• 606 0_ |a 集成电路工艺 |A Ji Cheng Dian Lu Gong Yi |x 可靠性试验

• 690 __ |a TN406 |v 3

• 692 __ |a 73.755 |v 3

• 711 02 |a 上海冶金研究所 |A Shanghai ye jin yan jiu suo |4 编译 |3 CAL n2005294599# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _0 |a CN |b 广东省中山图书馆 |c 19970609

• 801 _2 |a CN |b NLC

• 905 __ |a AUSTL |d 73.755/2334Q1

• 998 __ |a NWNU