机读格式显示(MARC)

• 000 00586nam0 2200205 450

• 001 0000051788

• 005 20201029160300.0

• 010 __ |d CNY1.70

• 100 __ |a 20020830d2001 mk y0chiy50 eb

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 106 __ |a r

• 200 0_ |a 半导体器件可靠性与失效分析 |A ban dao ti qi jian ke kao xing yu shi xiao fen xi |f 卢其庆，张安康编

• 210 __ |a 南京 |c 江苏科学技术出版社 |d 1981.4

• 215 __ |a 278页 |d 26厘米

• 692 __ |a 73.7314

• 701 _0 |a 卢其庆 |A Lu Qi Qing |4 编

• 701 _0 |a 张安康 |A Zhang An Kang

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20201029

• 905 __ |a AUSTL |d 73.7314/213