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• 010 __ |a 978-7-03-020586-5 |b 精装 |d CNY78.00

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• 200 1_ |a 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 |A wei na mi MOS qi jian ke kao xing yu shi xiao ji li |f 郝跃, 刘红侠著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008.03

• 215 __ |a xiv, 446页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |A ban dao ti ke xue yu ji shu cong shu

• 300 __ |a 国家科学技术学术著作出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目。

• 330 __ |a 本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论，目的是在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联系，阐述微纳米MOS器件的主要可靠性问题和系统的解决方法。

• 410 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x 微电子技术 |x 电子器件 |x 研究

• 690 __ |a TN4 |v 4

• 701 _0 |a 郝跃 |A hao yue |4 著

• 701 _0 |a 刘红侠 |A liu hong xia |4 著

• 801 _0 |a CN |b 新九雅图书 |c 20081023

• 905 __ |a AUSTL |d TN4/H934