机读格式显示(MARC)

• 000 01072nam0 2200325 450

• 001 0000359361

• 005 20201021152400.0

• 010 __ |a 7-81024-351-9 |d CNY25.80

• 020 __ |b S0003091

• 099 __ |a CAL 011999081114 |a CAL 012001048933

• 100 __ |a 19970515d1995 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 430000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 现代测试系统 |A xian dai ce shi xi tong |f 刘文彦等编著

• 210 __ |a 长沙 |c 国防科技大学出版社 |d 1995

• 215 __ |a 308页 |c 图 |d 26cm

• 320 __ |a 有书目(第298页)

• 300 __ |a 附: 1. GP-IB接口功能子集表, 2. GP-IB英文缩写索引, 3. 集成电路符号对照, 4. 参考文献

• 606 0_ |a 自动检测 |A Zi Dong Jian Ce |x 测试技术

• 690 __ |a TP274 |v 3

• 692 __ |a 73.816 |v 2

• 701 _0 |a 刘文彦 |A Liu Wenyan |c (计算机) |4 编著 |3 CAL n2004038358# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 702 _0 |a 周学平 |A Zhou Xueping |3 CAL n2004410747# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 702 _0 |a 刘辉 |A Liu Hui |c (计算机) |3 CAL n2004045620# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _2 |a CN |b LZT

• 905 __ |a AUSTL |d TP274/L867

• 920 __ |a 334400 |z 1

• 998 __ |a PUL