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• 200 1_ |a Digital Systems Testing and Testable Design |A Digital Systems Testing And Testable Design |d = 数字系统测试和可测性设计 |f Miron Abramovici, Melvin A.Breuer, Arthur D.Friedman著 |z chi

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2004

• 215 __ |a 652页 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外大学优秀教材 |A Guo Wai Da Xue You Xiu Jiao Cai |i 微电子类系列

• 330 __ |a 本书主要介绍了数字系统, 数字微系统芯片缺陷的来源, 逻辑描述的方法, 故障的建模, 故障模拟, 测试单固定故障等内容。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外大学优秀教材

• 410 _0 |1 2001 |a 微电子类系列

• 510 1_ |a 数字系统测试和可测性设计 |z chi

• 606 0_ |a 数字系统 |x 测试 |x 高等学校 |x 英文 |j 教材

• 606 0_ |a 数字系统 |x 系统设计 |x 高等学校 |x 英文 |j 教材

• 690 __ |a TP271 |v 4

• 701 _1 |a 阿布拉莫维奇, |A A Bu La Mo Wei Qi , |b M. |g (Abramovici, Miron) |4 著

• 701 _1 |a 布鲁尔, |A Bu Lu Er , |b M. A. |g (Breuer, Melvin A.) |4 著

• 701 _1 |a 弗里德曼, |A Fu Li De Man , |b A. D. |g (Friedman, A.D.) |4 著

• 801 _0 |a CN |b 三新书业 |c 20040228

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20060403

• 905 __ |a AUSTL |d TP271/A153