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• 099 __ |a CAL 012017175392

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究 |A ji yu fen zi mo ni de dian xing jue yuan cai liao jie dian te xing yan jiu |f 谢小军著

• 210 __ |a 西安 |c 西安交通大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a [11], 123页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a “十三五”学术文库系列 |A “ shi san wu ” xue shu wen ku xi lie

• 320 __ |a 有书目 (第115-123页)

• 330 __ |a 本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。

• 410 _0 |1 2001 |a “十三五”学术文库系列

• 606 0_ |a 绝缘材料 |A jue yuan cai liao |x 介电性质 |x 研究

• 690 __ |a TM21 |v 5

• 701 _0 |a 谢小军, |A xie xiao jun |f 1980- |4 著

• 801 _0 |a CN |b 261080 |c 20171207

• 905 __ |a AUSTL |d TM21/X881