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• 200 1_ |a 现代集成电路测试技术 |A Xian Dai Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Shu |A xian dai ji cheng dian lu ce shi ji shu |f 《现代集成电路测试技术》编写组[编] |g 时万春主编

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a 540页 |d 26cm

• 330 __ |a 本书分为上、下篇。上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等。

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 测试

• 690 __ |a TN407 |v 4

• 701 _0 |a 时万春 |A Shi Wan Chun |f (1933.11~) |4 主编

• 712 02 |a 《现代集成电路测试技术》编写组 |A 《xian Dai Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Shu 》bian Xie Zu |4 编

• 801 _2 |a CN |b AUSTL |c 20071121

• 905 __ |a AUSTL |d TN407/S844