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• 010 __ |a 978-7-111-63407-2 |d CNY59.00

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测 |A IGBT pi lao shi xiao ji li ji qi jian kang zhuang tai jian ce |f 肖飞 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 232页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 题名页题其余责任者：刘宾礼，罗毅飞，黄永乐

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。

• 606 0_ |a 绝缘栅场效应晶体管 |A jue yuan shan chang xiao ying jing ti guan |x 疲劳机理 |x 监测

• 690 __ |a TN386.2 |v 5

• 701 _0 |a 肖飞 |A Xiao Fei |4 编著

• 701 _0 |a 刘宾礼 |A Liu Binli |4 编著

• 701 _0 |a 罗毅飞 |A Luo Yifei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b NEU |c 20200102

• 905 __ |a AUSTL |d TN386.2/X316