机读格式显示(MARC)
- 000 00738nam 2200253 n 450
- 035 __ |a (Sirsi) j176721
- 099 __ |a CALB0120110778357m
- 100 __ |a 20110315d1973 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 国外集成电路测试概况 |A Guo Wai Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Gai Kuang |f 上海科学技术情报研究所编
- 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术情报研究所 |d 1973
- 215 __ |a 36页 |c 插图 |d 19cm
- 711 02 |a 上海科学技术情报研究所 |A shang hai ke xue ji shu qing bao yan jiu suo |4 编
- 801 _0 |a CN |b BSD |c 19961012
- 905 __ |a AUSTL |d 73.755/2343Q2