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• 010 __ |a 978-7-5672-3899-2 |d CNY59.00

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• 200 1_ |a FPGA芯片设计与测试技术研究 |A FPGA xin pian she ji yu ce shi ji shu yan jiu |d = Research on FPGA chip design and test technology |f 张惠国, 顾涵著 |z eng

• 210 __ |a 苏州 |c 苏州大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 196页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目 (第176-178页)

• 330 __ |a 本书围绕基于SRAM的FPGA, 基于岛状的架构, 对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计, 并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络, 同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识, 涉及了FPGA芯片涉及的多个方面, 可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识, 提升对FPGA器件的设计和应用能力。

• 510 1_ |a Research on FPGA chip design and test technology |z eng

• 606 0_ |a 可编程序逻辑器件 |A ke bian cheng xu luo ji qi jian |x 研究

• 690 __ |a TP332.1 |v 5

• 701 _0 |a 张惠国 |A zhang hui guo |4 著

• 701 _0 |a 顾涵 |A gu han |4 著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20220609

• 905 __ |a AUSTL |d TP332.1/Z378