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• 000 00776cam 2200253 450

• 001 0000299001

• 005 20190510171400.0

• 010 __ |d CNY0.20

• 099 __ |a CALB0120111021592m

• 100 __ |a 19910131d1973 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 国外集成电路测试仪概况 |A guo wai ji cheng dian lu ce shi yi gai kuang |f 上海科学技术情报研究所编辑

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术情报研究所 |d 1973

• 215 __ |a 36页 |d 18cm

• 606 0_ |a 集成电路工艺 |A Ji Cheng Dian Lu Gong Yi |x 自动测试设备

• 690 __ |a TN407 |v 3

• 692 __ |a 73.745 |v 3

• 711 02 |a 上海科学技术情报研究所 |A shang hai ke xue ji shu qing bao yan jiu suo |4 编辑

• 801 _0 |a CN |b SJT |c 20110121

• 905 __ |a AUSTL |d 73.745/2343

• 998 __ |a SJT